您好,欢迎来到五一七教育网。
搜索
您的当前位置:首页质量分析装置[发明专利]

质量分析装置[发明专利]

来源:五一七教育网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:质量分析装置专利类型:发明专利发明人:朝野夏世

申请号:CN201280072343.8申请日:20120412公开号:CN1042488A公开日:20141224

摘要:在基准CV值计算数据存储部(44)中存储预先实验性地求出的表示离子数与CV值的关系的公式。当在循环时间Tp、滞留时间Td等测量条件下对目标试样执行质量分析时,色谱制作部(41)基于分析结果制作色谱并求出峰面积值A。CV值关联信息计算部(43)通过X=A·(Td/Tp)来计算离子数X,基于存储部(44)中存储的公式来计算与离子数对应的CV值。这是仅包含数据的统计上的误差因素的基准CV值,因此通过将实测CV值与基准CV值以能够进行比较的方式进行显示,分析者能够判断实测数据是否优良等,该实测CV值是基于与多次测量对应的实际的峰面积值的误差而计算出的。

申请人:株式会社岛津制作所

地址:日本京都府

国籍:JP

代理机构:北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人:刘新宇

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Copyright © 2019- 517ttc.cn 版权所有 赣ICP备2024042791号-8

违法及侵权请联系:TEL:199 18 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com

本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务