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专利名称：一种基于晶元片检测的集成式检测头组件专利类型：实用新型专利发明人：杨明亮
申请号：CN201820211613.3申请日：20180206公开号：CN207909835U公开日：20180925
摘要：本实用新型涉及自动化检测工装技术领域，公开了一种基于晶元片检测的集成式检测头组件，包括基座、连接柱，基座的底面两端均向外延伸形成四根的支撑条，探针组件包括探针定位板、探针阵列，探针定位板的底面两侧设有与限位槽配合的导向凸条；连接柱的下端设有转动套，转动套的两侧设有一组关于中心对称的连接臂，连接臂的外端设有竖轴，竖轴上设有压辊，压辊与竖轴之间滑动连接，竖轴上位于压辊与连接臂之间的部位设有压簧，探针定位板的顶面设有弧形槽、与弧形槽的内弧面连通的导向槽。本实用新型中探针组件更换方便，极大的提高了晶元片检测效率。
申请人：普铄电子(上海)有限公司
地址：200131 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区富特北路258号第二层M部位
国籍：CN
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