专利内容由知识产权出版社提供
专利名称：一种基于激光共聚焦扫描的膜孔结构及孔隙率测试
方法
专利类型：发明专利发明人：王凯军,宫徽,张云申请号：CN201610662830.X申请日：20160813公开号：CN106353234A公开日：20170125
摘要：本发明提供一种基于激光共聚焦扫描（Confocal laser scanning microscopy，CLSM）的膜孔结构及孔隙率测试方法，包括样品的制备、样品的观察、数据的处理等三个步骤。传统的测试方法有扫描电镜法、透射电镜法、压汞法和氮气吸附法等，但它们各自都有诸多的缺点。例如，压汞法测试过程中所需的高压会使膜结构变形；透射电镜法和扫描电镜法样品制备耗时且对样品破坏大。本发明利用激光共聚焦扫描电镜测试膜孔结构及孔隙率，只需要用荧光染料对待测样品进行一次染色，可以在不破坏样品的情况下获得样品内部的信息，操作简便、对样品创伤小。同时，本发明测试样品时无需对其进行干燥处理，即在测试液体分离膜时，可以在接近膜使用的环境中测试样品，所得结果更加准确可靠。
申请人：王凯军,宫徽,张云
地址：100084 北京市海淀区清华大学环境学院中意节能楼904室
国籍：CN
更多信息请下载全文后查看
