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一种自动测试芯片的装置[实用新型专利]

来源:五一七教育网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种自动测试芯片的装置专利类型:实用新型专利

发明人:陈启俊,江典棋,刘伟城,王宗彪,翁志伟申请号:CN201621475098.7申请日:20161230公开号:CN206321757U公开日:20170711

摘要:本实用新型涉及测试领域,尤其涉及一种自动测试芯片的装置。本实用新型提供的自动测试芯片的装置,包括微控制器、待测芯片、电流检测模块、第一显示模块和模拟开关芯片;所述电流检测模块的一端与所述待测芯片连接,另一端与所述微控制器连接;所述模拟开关芯片的一端与所述待测芯片连接,另一端与所述微控制器连接;所述第一显示模块与所述待测芯片连接。实现自动测试由外部设备的输入信号触发对应功能的芯片。

申请人:福州福大海矽微电子有限公司

地址:350000 福建省福州市鼓楼区软件大道号福州软件园A区31号楼三层C室

国籍:CN

代理机构:福州市博深专利事务所(普通合伙)

代理人:林志峥

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