CLOCK信号完整性测试指导书

VTRON 作业指导书 研发中心 /测试部/硬件测试组

CLOCK信号完整性测试指导书 功能: 信号完整性 阶段:验证 文档版本: A 发布日期: 2009/06/24

BY DATE

批准人员 曾瑜 2009/06/24 审核人员 黄世民 2009/06/24 准备人员 梁波 2009/06/24

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目录

1. 目的 .............................................................................................................................................. 4

2. 适用范围 ...................................................................................................................................... 4 3. 测量设备 ...................................................................................................................................... 4 4. 参考文件 ...................................................................................................................................... 4 5. 注意事项 ...................................................................................................................................... 4 6．测试项目 .................................................................................................................................... 5 7. 操作步骤....................................................................................................................................... 6

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REV. A

※ ※ 修 订 履 历 ※ ※ 修 订 内 容 初 版 发 行 发行日期 备 注 2009/06/24

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1. 目的

依照规格手册，介绍和规范在测量CLOCK信号时的操作。

2. 适用范围

用于VTRON拼墙和IDB产品 在做信号完整性量测时的应用。

3. 测量设备

Tektronix TDS 3034 Qty=1 Tektronix P6139A Probe Qty=2

4. 参考文件

4.1《TDS3034 操作手册》

4.2 相关测试点位组件的DATASHEET,线路图等。

5. 注意事项

5.1 确认测试人员静电环接触良好

5.2 在测量时应检查示波器是否运行正常 5.3 检查信号连接是否正确，接地是否合理 5.4 确定待测系统SUT 是否工作在预定的模式

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6．测试项目

信号 CLOCK信号 测试项 测试点 Vih (高电平幅值) Vil (低电平幅值)) Tr (上升时间) Tf (下降时间) 频率 占空比 正脉冲宽度 负脉冲宽度 周期 抖动 Overshoot Undershoot 以上为基本测试项目,测试时先参考芯片规格!

测试参数图示：

参考标准 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 芯片规格书 备注

图一 CLOCK

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7. 操作步骤

6.1 操作前准备

6.1.1 执行探头的校正或DSKEW(多通道),确认结果是PASS. 6.2 测试流程

6.2.1 按下电源开关，开始进入操作接口

对于示波器操作接口和基本操作， 參考《TDS3034操作手册》。

6.2.2 当完全进入操作接口时，按照测试规范，选择不同的测试探头，将被测信号接到相应 的探头上。

6.2.3 让被测试单板进入测试模式:

让系统处于工作状态,进行时钟信号测试,完毕后关机退出.

所有项目测试参数参考图一所示，此处采用AT91RM9200举例说明，具体测试时依据对应CLOCK芯片规格参数测量。

6.3 信号分类测量

6.3.1 CLOCK信号高电平。

在示波器触发菜单选中触发模式为下降沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图所示，通过在Measure 菜单选择最大值、最高值测量项对波形进行幅值测量。也可用水平光标测量波形幅值和最大值。分析波形，幅值应在芯片规格范围，检查波形是否单调，是否有毛刺等干扰产生。

CLOCK信号高电平测试

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6.3.2 CLOCK信号低电平。 在示波器触发菜单选中触发模式为下降沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图Figure1所示，通过在Measure 菜单选择最小值、低电平幅值测量项对波形进行测量。也可用水平光标测量波形幅值和最小值。分析波形，幅值应在芯片规格范围，检查波形是否单调，是否有毛刺等干扰产生。

CLOCK信号低电平测试

6.3.3 CLOCK信号下降时间。

在示波器触发菜单选中触发模式为下降沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图所示，通过在Measure 菜单选择下降时间测量项对波形进行测量。也可用垂直光标测量下降时间（测量范围在10~90%或20~80%）。分析波形，下降时间应在芯片规格范围，下降沿应该单调。

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CLOCK信号下降时间测试

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6.3.4 CLOCK信号上升时间。 在示波器触发菜单选中触发模式为上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向上调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图所示，通过在Measure 菜单选择上升时间测量项对波形进行测量。也可用垂直光标测量上升时间（测量范围在10~90%或20~80%）。分析波形，上升时间应在芯片规格范围。上升沿应该单调。

CLOCK信号上升时间测试 6.3.5 CLOCK信号频率。

在示波器触发菜单选中触发模式为上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图所示，通过在Measure 菜单选择频率测量项对波形进行测量。也可用水平光标测量时钟频率。分析波形，时钟频率应在芯片规格范围。

CLOCK信号频率测试

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6.3.6 CLOCK正占空比测试

在示波器触发菜单选中触发模式为上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图所示，通过在Measure 菜单选择正占空比测量项对波形进行测量。分析波形，正占空比应在芯片规格范围。

CLOCK正占空比测试

6.3.7 CLOCK正脉冲宽度测试

在示波器触发菜单选中触发模式为上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图所示，通过在Measure 菜单选择正脉冲宽度测量项对波形进行测量。也可用水平光标测量正脉冲宽度。分析波形，正脉冲宽度应在芯片规格范围。

CLOCK正脉冲宽度测试

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6.3.8 CLOCK负脉冲宽度测试

在示波器触发菜单选中触发模式为上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图所示，通过在Measure 菜单选择负脉冲宽度测量项对波形进行测量。也可用水平光标测量负脉冲宽度。分析波形，负脉冲宽度应在芯片规格范围。

CLOCK负脉冲宽度测试

6.3.9 CLOCK周期测试

在示波器触发菜单选中触发模式为上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，量测结果如下图所示，通过在Measure 菜单选择周期测量项对波形进行测量。也可用水平光标测量周期。分析波形，时钟周期应在芯片规格范围。

CLOCK周期测试

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6.3.10 CLOCK抖动测试

在示波器触发菜单选中触发模式为下降或上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行auto操作。按下auto按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，按下display按钮打开余辉功能，设置时间约2~3分，量测结果如下图所示，用水平光标测量时钟抖动。分析波形，时钟抖动应在芯片规格范围。抖动 测量不是很准确,只做参考.

CLOCK抖动测试

6.3.11 CLOCK Overshoot测试

设置触发模式为上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向上调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，通过在Measure 菜单选择上过冲测量项对波形进行测量。量测结果如下图所示，+超调为Overshoot测量值。分析波形，检查过冲是否符合芯片规范要求。

CLOCK Overshoot测试

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6.3.12 CLOCK Undershoot测试

设置触发模式为下降沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single 操作。预先按下single 按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，通过在Measure 菜单选择下过冲测量项对波形进行测量。量测结果如下图所示，-超调为Overshoot测量值。分析波形，检查过冲是否符合芯片规范要求。

CLOCK Undershoot测试

注意：在测试过程当中尽量使用短的接线，以及尽量近的地，尽量使CURSORS打到位,做好信号的标识。

6.4 根据不同的设置，在屏幕上显示测试的波形和相应量测到的数据以及其它一些相关的信息。 6.5 进行数据的记录，把各种测试的数据记录下來，填入相应测试报告表格中,判断结果是否正确。 6.6 关闭系统,收拾整理实验室。

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